公差配合与技术测量

公差配合与技术测量

作者:

出版社: 中央广播电视大学出版社

CIP号:2017002638

书号:978-7-304-08092-1

出版地:北京

出版时间:2017.1

定价:¥30


简介

光滑圆柱体结合的公差与配合,技术测量基础,几何公差与检测,表面粗糙度及测量,滚动轴层、圆锥、键和花键、螺纹、圆柱齿轮公差与检测。

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