作者：
出版社： 华中科技大学出版社
CIP号：2020005159
书号：978-7-5680-5976-3
出版地：武汉
出版时间：2019.12
定价：￥38.0
本书分为9章，主要包括我国公差与配合方面的最新标准，阐述了技术测量的基本原理，主要包括绪论，测量技术基础，极限与配合，几何公差，表面粗糙度及其评定，光滑工件尺寸的检验和光滑极限量规的设计，常用典型件的互换性，圆柱齿轮公差与检测，尺寸链计算