作者：
出版社： 电子工业出版社
CIP号：2018222118
书号：978-7-121-35115-0
出版地：北京
出版时间：2018.1
定价：￥69
本书主要介绍广泛存在的各种辐射，及其对电子设备和系统的影响，涵盖了造成ULSI器件出错和失效的多种辐射，包括电子、α射线、介子、γ射线、中子和重离子，从物理角度建模，以确定使用何种数学方法来分析辐射效应。本书对多种降低软错误影响的预测、检测、表征和缓解技术进行了分析和讨论。作者还展示了如何对在凝聚态物质中复杂的辐射效应进行建模，以量化和减少其影响，并解释了在环境辐射中电子系统包括服务器和路由器等是如何失效的。