作者：
出版社： 科学出版社
CIP号：2017145404
书号：978-7-03-053924-3
出版地：北京
出版时间：2017.6
定价：￥60
本书主要内容为GIS内部绝缘故障检测及诊断技术，分别设计局部放电、过热缺陷模型并搭建模拟故障平台，以开展两类故障下SF6分解特性对比实验。重点介绍光谱分析技术对SF6分解产物的定性定量检测，局部放电的故障诊断模型以及故障趋势估计建模，最终实现光谱分析技术的GIS故障统一预警。