作者：
出版社： 国防工业出版社
CIP号：2016130773
书号：978-7-118-10714-2
出版地：北京
出版时间：2016.6
定价：￥79
本书主要内容是阐述”边界扫描测试技术”的软硬件结构组成和开发应用。以边界扫描测试技术”国际标准IEEE1149”系列标准为蓝本，结合作者多年对故障诊断与边界扫描测试的研究成果，全面阐述与剖析边界扫描测试技术的设计思想及进行测试性设计的具体方法，总结了开发应用中的常见问题，并给出了对数字电路和模数混合电路的测试实例。