作者：李成祥著
出版社： 延边大学出版社
CIP号：2017185290
书号：978-7-5688-3228-1
出版地：延吉
出版时间：2017.7
定价：￥29.8
本书内容包括常用半导体元件性能与测试、线性放大电路制作与测试、集成运算放大器应用电路制作与测试、波形产生和变换电路制作与测试、电源电路制作与测试、基本逻辑电路制作与测试、组合逻辑电路制作与测试、触发器和时序逻辑电路制作与测试、数/模和模/数转换电路制作与测试。将理论教学与实践训练有机地融于一体。本书可供从事电子技术的工程技术人员或电子技术爱好者参考。